時(shí)代粗糙度儀測量平臺微調平臺

時(shí)代粗糙度儀測量平臺微調平臺有幾種供用戶(hù)選擇配合時(shí)代的粗糙度儀使用，在一般情況下，時(shí)代的粗糙度儀可以現場(chǎng)使用，作便攜式儀器測量粗糙度；而在某些場(chǎng)合則需要配合測量平臺和微調平臺。粗糙度儀測量平臺TA610和TA620  ，是支持粗糙度儀的本機的；粗糙度儀微調平臺TA630和631則是用來(lái)調節工件的。

粗糙度儀測量平臺TA610  

粗糙度儀測量平臺齒條升降，立柱可以隨意轉動(dòng)，用來(lái)  
測量不容易放置的工件，可提高測量精度  
花崗巖平臺平面度：00級|平面公差值3μm  
花崗巖平臺尺寸：400×250×70mm  
垂直升降高度：270mm  
垂直升降微調量：20mm  

粗糙度儀測量平臺TA620  

絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來(lái)測  
量形狀較小的工件，可提高測量精度  
花崗巖平臺平面度：00級|平面公差值3μm  
花崗巖平臺尺寸：400×250×70mm  
垂直升降高度：300±1mm  
升降回程誤差：≤手輪旋轉1/6圈  

粗糙度儀微調平臺TA630  

X—Y平面轉角，俯仰角  
調整范圍：   
X向：±12.5mm  
Y向：±12.5mm  
旋轉角度：   
粗調：360  

 

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